以往，環(huán)境試驗被作為一種產(chǎn)品預期要經(jīng)受外場(chǎng)實(shí)際環(huán)境的模擬試驗。研制產(chǎn)品時(shí)通常把技術(shù)條件規定的應力極限值作為鑒定或考核產(chǎn)品的條件。但是，即使已順利通過(guò)了設計階段的鑒定試驗和生產(chǎn)階段的驗收試驗，殘留的潛在缺陷仍然很多，大量產(chǎn)品使用時(shí)可靠性差，平均故障間隔時(shí)間（MTBF）短，外場(chǎng)返修頻繁，導致?lián)ＹM用、維修費用居高不下，用戶(hù)或客戶(hù)不滿(mǎn)意，嚴重影響研制部門(mén)和制造廠(chǎng)商的信譽(yù)。

傳統的可靠性試驗（包括環(huán)境應力篩選（ESS）、可靠性增長(cháng)試驗和可靠性鑒定試驗等）大多也是在模擬環(huán)境下進(jìn)行的試驗，以ESS為例，早電子產(chǎn)品的ESS 是根據美國*1979年NAVMAT-P9492《生產(chǎn)篩選試驗大綱》確定的。溫度范圍一般采用技術(shù)條件規定的上下限，溫度循環(huán)次數由產(chǎn)品的復雜程度決定，如表1所示。隨機振動(dòng)采用梯型譜，20～80Hz為+3db/OCT，80～350Hz, 為功率譜密度0.02～0.04g2/Hz的平直譜,350～2000Hz為3db/OCT，振動(dòng)時(shí)間為單向10min，三向時(shí)每向5min。

 90年制定的國軍標GJB1032《電子產(chǎn)品環(huán)境應力篩選方法》參照《MIL-STD-2164-85》，強調*檢驗要求，規定環(huán)境應力篩選應包含兩部分試驗。部分為缺陷剔除試驗（盡可能激發(fā)故障、并修復），要求完成40h溫度循環(huán)和5min隨機振動(dòng)。二部分為*檢驗試驗，以驗證篩選的有效性，其應力量級與部分試驗相同，要求完成80h溫度循環(huán)中連續40h循環(huán)*和15min中連續5min*振動(dòng)試驗。每一次循環(huán)時(shí)間約4h，變溫率為 5℃/min，振動(dòng)要求與早期標準相一致?？煽啃栽鲩L(cháng)試驗則選用模擬現場(chǎng)實(shí)際的綜合環(huán)境條件進(jìn)行。GJB1407-92《可靠性增長(cháng)試驗》規定可靠性增長(cháng)的總試驗時(shí)間一般為（5～25）MTBF。這些試驗費用昂貴，試驗時(shí)間長(cháng)，而價(jià)格和研制周期已成為當今市場(chǎng)激烈競爭的焦點(diǎn)。因此研究開(kāi)發(fā)一種快速、經(jīng)濟、有效的新的可靠性試驗方法已勢在必行。

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